涂層測(cè)厚儀2000A適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評(píng)估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中，因此儀器一旦連接了探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。
涂層測(cè)厚儀2000A的正確使用方法
(1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
(2)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。曾做過一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
(3)人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在的身上。涂層測(cè)厚儀2000A之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī) 體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表 面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。
(4)在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒有選擇合適的基體?；w小平面為7mm，小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
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